光伏组件的PID测试是指电池组件的电位诱发衰减测试，也被称为PID效应测试。PID效应是指电池组件在高电压作用下，在组件内部形成电场，使得组件内部的材料发生电化学反应，导致组件的性能衰减和功率损失。PID测试的目的是为了评估电池组件在高温、高湿和高盐碱环境下的耐受能力，以及其对于电池组件性能的影响。

光伏组件PID测试方法：

PID测试有两种加速老化的方法：

1）在特定的温度、湿度下，在组件玻璃表面覆盖铝箔、铜箔或者湿布，在组件的输出端和表面覆盖物之间施加电压一定的时间。

2）在85%湿度85℃或者是60℃或85℃的环境下将-1000V直流电施加在组件输出端和铝框上48~96小时。

光伏组件PID测试标准通常参考以下标准：

IEC 62804(Draft)“System voltage durability test for crystalline silicon modules-Design qualification and type approval”，基本要求是准备3块组件。其中一块作为控制组件，组件置于一定温度和湿度的环境中，将组件的内部导电体与高压电源的一个极连在一起，组件外导电体与高压电源的另一极连在一起。一块组件在正偏压下进行老化，一块组件在负偏压下老化。

GB/T 9535-1998“地面用晶体硅光伏组件设计鉴定和定型试验”。

GB/T 6492-2004“航天用非烧结硅酸盐玻璃分规范”。

GB/T 6005-2001“试验电炉用高温电热丝”。

GB/T 6495-1986“肖特基二极管总规范”。

GB/T 6494-1986“金属化氧化物半导体场效应晶体管总规范”。

GB/T 6493-1986“二极管总规范”。

GB/T 6490-1986“双极晶体管总规范”。