高温老化寿命试验-可靠性试验-第三方检测机构

　　克莱斯勒、福特和通用汽车为建立一套通用的零件资质及质量系统标准而设立了汽车电子会(AEC)，AEC是“AutomotiveElectronicsCouncil：汽车电子协会”的简称，是主要汽车制造商与美国的主要部件制造商汇聚一起成立的、以车载电子部件的可靠性以及认定标准的规格化为目的的团体，AEC建立了质量控制的标准。同时，由于符合AEC规范的零部件均可被上述三家车厂同时采用，促进了零部件制造商交换其产品特性数据的意愿，并推动了汽车零件通用性的实施，为汽车零部件市场的**成长打下基础。

　　芯片静电测试(ESD)：

　　人体放电模式测试(HBM),JS001；

　　元器件充放电模式测试(CDM),JS002；

　　闩锁测试(LU),JESD78；

　　芯片IC失效分析(FA)：

　　光学检查(VI/OM)；

　　扫描电镜检查(FIB/SEM)

　　微光分析定位(EMMI/InGaAs)；

　　OBIRCH；

　　Micro-probe;

　　聚焦离子束微观分析(FIB)

　　弹坑试验(cratering)

　　芯片开封(decap)

　　芯片去层(delayer)

　　晶格缺陷试验(化学法)

　　PN结染色/码染色试验

　　推拉力测试(WBP/WBS)

　　红墨水试验

　　PCBA切片分析(X-section)

　　高温老化寿命试验

　　芯片材料分析：

　　高分辨TEM(形貌、膜厚测量、电子衍射、STEM、HAADF)；

　　SEM(形貌观察、截面观察、膜厚测量、EBSD)

　　Raman(Raman光谱)

　　AFM(微观表面形貌分析、台阶测量)

　　AECQ测试标准

　　AEC-Q100芯片应力测试（StressTest）的认证规范

　　AEC-Q100-001邦线切应力测试

　　AEC-Q100-002人体模式静电放电测试

　　AEC-Q100-004集成电路闩锁效应测试

　　AEC-Q100-005可写可擦除的性记忆的耐久性数据保持及工作寿命的测试

　　AEC-Q100-007故障仿真和测试等级

　　AEC-Q100-008早期寿命失效率（ELFR）

　　AEC-Q100-009电分配的评估

　　AEC-Q100-010锡球剪切测试

　　AEC-Q100-011带电器件模式的静电放电测试

　　AEC-Q100-01212V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述

　　如今汽车市场竞争激烈，不管是投标还是**市场，要想尽早进入汽车领域并且立足，AECQ系列认证都将会是车企的。GRGT实验室多年年AECQ系列认证经验，始终以、、**、全面的品质保障，为客户的运营和供应链带来的安心保障。

　　AEC-Q100标准的目标是提高产品的良品率，这对芯片供货商来说，不论是在产品的尺寸、合格率及成本控制上都面临很大的挑战。不管是投标还是**市场，要想尽早进入汽车领域并且立足，AECQ系列认证都将会是车企的。广电计量14余年AECQ系列认证经验，始终以、、**、全面的品质保障，为客户的运营和供应链带来的安心保障。